檢索結果：共41筆資料 檢索策略： "郭鴻飛".ccommittee (精準) and cdept.raw="自動化及控制研究所"
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射出成型機的溫度控制一般都是使用比例-積分-微分自動參調整控制器(automatic tuning PID)，但在某些情況下自動參數的調整，無法滿足需求必須切換成手動調整，這有時需要耗費比較長的時間…
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人類自從真空管發明以來，隨著時代的進步，演變至電晶體與半導體做為人類主要運算的工具。而後隨著電腦演算能力的強大，各式各樣的應用應運而生。在影像方面也因為計算機功能與儲存裝置的容量日益強大，而將傳統底…
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光學級環氧樹脂(Epoxy,EPO-TEK 301-2FL )，可能取代傳統太陽能電池模組中的EVA。本研究目的在探討製程中的可控制製程參數對於Epoxy-based太陽能模組封裝結果的影響，此模組…
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在本論文中，研究具有三個正Lyapunov指數之新Cai超渾沌系統的動力分析、渾沌控制與渾沌同步。我們使用的技術包括相圖，發散計算，功率譜分析，分岔圖和Lyapunov指數圖來分析並了解新的渾沌系統…
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許多運作在窄頻電力線通道內含的設備，其內部具切換式功能的電子零件容易產生高能量的脈衝干擾訊號，常導致資料在傳輸過程中受到破壞，以致於資料失去完整性。而根據研究統計顯示，具循環穩態(cyclo…
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本文藉由已發展成熟的各種理論，應用於RRR平面並聯式機構的位置控制與運動學分析。首先我們會對RRR平面並聯式機構做反向運動學、正向運動學和最大工作範圍的分析，還有直流馬達的PWM驅動、角度感測、系統…
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本論文設計了一種加密演算法，演算法的金鑰基於渾沌系統產生。為此我們 提出了一個四維的渾沌系統，之後以相圖分析與李亞普諾夫指數以及 Random NIST 測試對渾沌系統的特性進行驗證。經驗證後，我們…
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在半導體的先進製程中，對準誤差量測技術(Overlay Metrology)為關鍵的製程步驟，準確地測量出積體電路層與層之間的對準誤差(Overlay)，可以有效減少製程的重工率進而降低製程成本。D…
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本論文將粒子群多目標最佳化（MOPSO）演算法整合到光源和光罩同步優化（SMO）過程中，以增強極紫外（EUV）光刻成像的性能。本研究開發了同步處理光源和光罩圖案的方法。對於自由形式的光源結構基於像素…
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近二十年來網路蓬勃發展，已從最原始的小型學術網路發展成為當今十四億人口日常生活都在使用的全球網路。隨著路由器、伺服器和個人電腦於網路通訊發展的成熟，另一個網際網路的革命「物聯網 (Internet …